热分析实验室

NETZSCH 公司 LFA 447 Nanoflash® 闪光导热仪，在材料热扩散与导热性能测量方面又一有力的工具。遵照 ASTM E1461 标准，Nanoflash® 使用氙灯作为加热源加热样品表面，使用红外探测器读取样品温升，减少了潜在的表面热阻，可以精确测量薄的样品如基质上的涂层、薄膜材料或多层样品。
Nanoflash® 的操作实现高度自动化：由软件控制测试温度与闪光灯启闭，并进行数据分析。自动进样系统允许仪器在一次测试过程中测量多个样品。仪器可以为每一样品单独设置闪光能量等级、脉冲宽度与温度。其所测量的热扩散系数范围十分宽广，覆盖从聚合物到金刚石各类材料领域。

测量原理：作为加热源的氙灯发射一束脉冲，打在样品的下表面，由红外探测器测量样品上表面的相应温升，并由软件计算出样品的热扩散系数。
使用内置的 2 或 4 样品位的自动进样器，可以同时自动进行多个样品的测量。样品托盘操作容易，制样快，测样周期短。
• 氙灯光脉冲加热样品背面
• 测量样品正面的温度随时间变化获得如下升温曲线，并作相应分析，获得热扩散系数、比热、导热系数

λ：导热系数；ρ：密度；a：热扩散系数

遵循国际标准：ASTM E1461，DIN EN 821，DIN30905

硬件特点 • 符合 Class I 安全标准，配备安全锁定机构
• 配备辅助激光，校正样品/脉冲位置，无需重新准直
• 激光光路优化，能量损失小
• 激光脉冲校正功能
• 激光脉冲能量、宽度可由软件控制，适合于各种不同样品
• 可更换式样品槽
样品槽与样品支架分离
可根据使用要求，选择不同材质的样品槽
可根据样品尺寸定制样品槽
更换简便，省时，备件成本低
提供特殊样品槽，可用于测量熔融金属、熔渣、多层材料等
适用于圆片或方片样品

软件特点 市场上唯一提供全方位校正功能的系统，标准分析软件提供的非线性模型可同时实现：
• 激光脉冲宽度校正
• 径向热散失校正
• 表面热散失校正
• 热辐射校正
基于全面热损失校正功能，提供市面上最丰富的数学模型；并提供数学模型选择向导功能，帮助用户快速选择合适的数学模型进行分析。

【技术参数】

• 温度范围：RT … 300 ℃
• 热扩散系数测量范围：0.01 ... 1000mm2/s
• 导热系数测量范围：0.1 … 2000 W/mK
• 热扩散系数重复性：≤±3％
• 比热重复性：≤±5%
• 热扩散系数准确度：≤±5%
• 比热准确度：≤±5%
• 样品直径：8 … 25.4 mm
• 样品厚度：0.01 … 6 mm
• 样品数：4
• 激光脉冲能量范围：高至10J （可选）
• 样品形态：固体、液体、粉末、薄膜、纤维……
• 测量气氛：空气
• 可分析多层样品

【配置组成】

主机
恒温水浴
10*10mm或Φ12.7mm样品支架

【实测例谱】